• 硬件在环测试
 

硬件在环 (HIL)测试

NI提供开放的软硬件技术,为从研发到生产制造等各个环节提供测试解决方案。NI硬件在环(HIL)测试平台同样通过开放的软硬件技术,针对各种不同的HIL应用提供可定制的解决方案平台,降低了HIL测试系统的开发时间、成本和开发风险。

 

 

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